| 価格 | お問い合わせください |
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| メーカー名 | ジャスコインタナショナル(株) |
| 製品URL | https://www.jascoint.co.jp/product/sem/phenom-pharos/ |
| 計測対象物質 | |
| アプリケーション | |
| 説明 | FE電子銃を搭載した卓上SEM最高峰モデル。 画質への追求から開発された世界初の卓上FE-SEMです。フロアモデルに迫る高分解能画像を圧倒的スピード、簡単操作で取得可能です。 限られた環境の中でスピードと高分解能が必要とされるシーンで活躍します。EDS検出器を搭載することで元素分析に対応、更に画像解析ソフトを追加することで、粒子や繊維解析が可能となります。 特徴 ●FE電子銃搭載による高分解能画像 ●設置場所に困らないコンパクトサイズ ●試料導入からSEM像表示までわずか30秒 ●オプションのSTEMホルダによりSTEM観察が可能 ●粒子解析、繊維解析など多彩な画像解析ソフトウェア |
