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メーカー名 | サーモフィッシャーサイエンティフィックグループ 日本エフイー・アイ(株) |
製品URL | https://www.thermofisher.com/jp/ja/home/electron-microscopy/products/xps-instruments.html.html |
計測対象物質 | 金属、半導体、セラミック、ポリマー、ナノ材料、先端材料 |
アプリケーション | 材料表面の元素組成と化学状態解析 |
説明 | Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X線光電子分光システムは、微小部から大面積まで高感度でのXPS測定が可能です。試料搬送や測定を自動化しすることにより高い操作性を徹底的に追及することにより、高性能と高操作性を両立した画期的なXPS装置です。 ・X線スポットサイズ可変:10μm~400μm ・業界最高クラスの高感度:最高感度6.5Mcps以上(Ag3d5/2の半値幅1.0eV時) ・試料搬送から測定・解析を自動化し、操作性を徹底追及 ・アルゴンガスクラスターイオン銃オプションの選択が可能 ・紫外光電子分光(UPS)、イオン散乱分光(ISS)、反射電子エネルギー損失分光(REELS)、ラマン分光等加分析機能を追加可能 ・トランスファーベッセル、サンプル加熱ホルダー、サンプルバイアスホルダーに対応 |