卓上走査型電子顕微鏡 Phenom Pharos

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メーカー名 ジャスコインタナショナル(株)
製品URL https://www.jascoint.co.jp/products/sem/index2020_04.html
計測対象物質 金属,樹脂,フィルム,トナー,紙,繊維, 食品,化粧品,製薬,植物,毛髪,生物,半導体,機械,エンジン,自動車,粒子,電 池材料,生態,環境,最先端材料
アプリケーション 品質管理,工程管理,研究,商品開発,製品検査,摩擦学,ライフサイエンス,材料の評価,教育,元素分析, 異物解析,粒 子解析,繊維解析,細孔解析,粗さ解析,犯罪捜査,科学捜査
説明 電界放出型(FE)電子銃を搭載したサーモフィッシャーサイエンティフェイック社の卓上SEMです。コンパクト、操作性、スピードをそのままに、これまでの卓上SEMの限界を遥かに超える分解能2.0nmを実現しました。サブミクロンおよびナノ領域での粒子や繊維などの最先端材料の観察から解析まで行うことが可能です。

特徴
● FE電子銃、分解能2.0nm以下
● 僅か30秒でSEM像表示
● 設置場所を選ばない
● 解析ソフトの追加で試料から最大限の情報を引き出します