製品情報
卓上型全反射蛍光X線分析装置 NANOHUNTER II
| 価格 | 価格は別途お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | (株)リガク |
| 製品URL | https://rigaku.com/ja/products/xrf-spectrometers/txrf/nanohunter-ii |
| 計測対象物質 | シリコンウエハ,ガラス,飲料水,茶,ワイン,環境水,廃水,有機溶媒,樹脂,オイル,血清,血液,毛髪,大気粉塵,触媒,フィルター,植物,研磨剤,繊維,塗膜,薄膜 |
| アプリケーション | 元素分析,微量元素分析,表面分析,深さ方向分析,液体分析,廃水分析,環境分析,基板モニタリング,マイクロアナリシス,エアロゾル分析,法科学,異同識別 |
| 説明 | 試料表面すれすれに入射した励起Ｘ線により、表面近傍元素を選択的に効率良く励起できる、高感度な元素分析装置です。全反射条件を満たすことで低いバックグラウンドを実現します。また、入射角度可変機構も搭載しており、得られる情報の深さを変更することが可能です。標準的なMo励起源に加え、30keV以上の高エネルギー励起源も搭載し、幅広い元素範囲の測定が可能です。10μL程度の微量液体を基板上に点滴・乾燥させることで、数ppb～の高感度測定ができます。 ・X線管：Mo (600W) ・モノクロメータ：Mo (17.4keV), 高エネルギー (35keV) ・検出器：SDD ・分析元素範囲：Al ～ U ・入射角度範囲：-0.05 ～ +0.45° ・試料交換機：16試料 ・試料サイズ：26×76mm,φ30mmディスク,最大厚み5mm |
