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アルバック・ファイ(株)
| 住所 | 〒253-8522 茅ヶ崎市萩園2500 |
|---|---|
| TEL | 0467-85-6522 |
| URL | https://www.ulvac-phi.com |
| 担当者 | |
| 営業所等 | |
| 営業品目 | 各種表面分析装置［走査型X線光電子分光分析装置（XPS）、 硬X線光電子分光分析装置（HAXPES）、二次イオン質量分析装置（SIMS）、 走査型オージェ電子分光分析装置（AES）］、各種オプション ほか |
トピックス
| 製品名 | 公開日 | 金額 | 計測対象物質 | アプリケーション |
|---|---|---|---|---|
| 走査型デュアルX線光電子分光分析装置 PHI Quantes | 2017-04-14 | お問い合わせください | ||
| 飛行時間型二次イオン質量分析装置 PHI nanoTOF 3 | 2017-04-12 | お問い合わせください | ||
| 走査型オージェ電子分光分析装置 PHI 4800 | 2016-06-01 | お問い合わせください | ||
| 多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置 PHI VersaProbe 4 | 2016-06-01 | お問い合わせください | ||
| 自動走査型X線光電子分光分析装置 PHI X-tool | 2012-05-01 | お問い合わせください | ||
| 二次イオン質量分析装置 PHI ADEPT-1010 | 2011-04-01 | お問い合わせください | ||
| フィールドエミッション型オージェ電子分光分析装置 PHI 710 | 2011-04-01 | お問い合わせください | ||
| 走査型X線光電子分光分析装置 PHI QuanteraⅡ | 2011-04-01 | お問い合わせください |