| 価格 | お問い合わせください |
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| メーカー名 | パーク・システムズ・ジャパン(株) |
| 製品URL | https://www.parksystems.com/jp/ |
| 計測対象物質 | |
| アプリケーション | |
| 説明 | ⼤型フラットパネルディスプレイのためのAFMとして、300mmを超えるサンプルのナノレベルの測定を可能にしました。Park NX-TSHの独自のチップスキャニングヘッドとガントリー型ブリッジシステムで、OLED、LCD、フォトマスクなどにおいても、信頼性の⾼い⾼解像度のAFM像を取得することができます。
※仕様はカスタマイズできますので、お気軽にご相談ください。 |
