製品情報
X線単結晶方位測定装置 s-Laue
| 価格 | お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | パルステック工業(株) |
| 製品URL | https://www.pulstec.co.jp/product/laue/ |
| 計測対象物質 | 単結晶 |
| アプリケーション | 卓上型 誰でも 簡単測定 |
| 説明 | 【 特 長 】 省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラです。 ◎単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。 ◎空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。 ◎X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です。 ◎顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です。 ◎小型・軽量で省スペース化を実現しました。 【 使 用 例 】 ◎主面方位の測定 ◎切り出し方位の確認・調整 ◎結晶性評価 ◎結晶成長、加工関連 ◎半導体デバイス製造・開発 【 仕 様 】 X線 ：W 30kV/1.5mA 空冷 入射方向 ：垂直下向き 照射径 ：φ1.0mm(標準コリメータ搭載時) 測定時間 ：60秒 ※代表例 試料ステージ：6軸(θ/Tan./Rad./X/Y/Z) 外形寸法 ：W224×D364×H480mm 本体重量 ：約24kg |
