ハンドヘルド蛍光X線分析装置

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メーカー名 (株)日立ハイテクアナリシス
製品URL https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/analytical-systems/spectrophotometers/uv-vis-nir/uh5700.html
計測対象物質 アルミニウム合金
アプリケーション 現場で膜厚測定
説明 実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。 ・非破壊検査 ・簡便な操作方法 ・頑健性 ・汎用性の高いオプション