製品情報
原子分解能分析電子顕微鏡 JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
| 価格 | 価格は別途お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 製品URL | https://www.jeol.co.jp/products/scientific/tem/JEM-ARM300F2.html |
| 計測対象物質 | 金属、半導体、セラミック、触媒、電池材料、磁性材料、高分子、無機材料、有機材料 |
| アプリケーション | 原子レベルでの物質の構造解析および原子レベルでの物質の組成分析、化学結合状態分析 |
| 説明 | 本製品は、自社開発の球面収差補正装置を組み込んだ最高加速電圧300 kVの原子分解能電子顕微鏡です。分解能を向上させるためにエンクロージャによる防音、軽量化電子銃の搭載による耐震動性向上、レンズ電流安定度の強化などの改良を行い、従来の装置よりもさらに安定性が向上しました。また、新しく設計されたポールピース"FHP2"では形状を最適化し、超高分解能とEDSによる分析性能を向上してます。分解能はETAコレクターを用いたとき、STEMのロンキグラムのフラットエリアは従来装置よりも広がっています。 これらの結果、高い安定性だけでなく、世界最高峰の分解能を有す原子分解能分析電子顕微鏡となっています。 |
