価格 | 価格はお問い合わせください。 |
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メーカー名 | 株式会社日立ハイテク |
製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/fe-sem/su9000ii.html |
計測対象物質 | 材料、金属、ナノチューブ |
アプリケーション | 材料、ナノテク、インレンズ |
説明 | SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 0.4 nm(加速電圧 30 kV)を達成しました。 低加速電圧領域では0.7 nm(照射電圧 1.0 kV/オプション)を保証しています。 ◎特長 ■30 kVで0.4 nmの世界最高の二次電子分解能を保証 ■低収差と高輝度安定プローブ電流を両立した新開発コールドFE電子銃 ■試料ダメージの軽減などを目的とした低加速電圧性能 ■コンタミネーションの影響を軽減させた超高真空試料室 ■さまざまな設置環境下でも、高いパフォーマンスを実現するための高剛性フレームと耐騒音カバー ■サイドエントリー方式(試料交換位置が高分解能観察位置)による迅速かつ高分解能観察 ◎仕様 ■二次電子分解能 0.4 nm(加速電圧 30 kV) 0.7 nm (照射電圧 1.0 kV)*1 自社試料のSEM像から最小の粒子間Gapを測定 *1 リタ―ディング機能ユニット(オプション)使用時。 1 kV分解能数値はリタ―ディング用平面ホルダー/Top検出器(オプション)使用時の値です ■STEM分解能(オプション) 0.34 nm ■倍率 低倍率モード:80~10,000倍(写真倍率) 220~25,000倍(実表示倍率) 高倍率モード:800~3,000,000倍(写真倍率) 2,200~8,000,000倍(実表示倍率) ■加速電圧 0.5~30 kV(0.1 kVステップ) |