製品情報
蛍光Ｘ線膜厚計 FT160シリーズ
| 価格 | お問い合わせください。 |
|---|---|
| メーカー名 | (株)日立ハイテクアナリシス |
| 製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/analytical-systems/coatings/ft160.html |
| 計測対象物質 | 環境、排水、土壌、飲料水、半導体、電子部品、金属、セラミック、貴金属、医薬品、化粧品、食品、鉄鋼、非鉄、プラスチック、めっき、RoHS、EN、RPF、インク、電池 |
| アプリケーション | 画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能 |
| 説明 | 微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。 ・X線光学系にポリキャピラリを採用 ・検出器系に高性能半導体検出器（SDD）を採用 ・画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能 ・シンプルなソフトデザインとヘルプ機能で簡便操作 |
