卓上型X線回折装置 Aeris(エアリス)

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メーカー名 スペクトリス(株) マルバーン・パナリティカル事業部
製品URL https://www.malvernpanalytical.com/jp/products/product-range/aeris-range
計測対象物質 電池材料,結晶構造解析,製薬,結晶多形,スクリーニング ,金属,残留応力,極点測定,劣化評価,薄膜,エピタキシャル膜,逆格子マッピング,応力分析 ,ナノマテリアル,小角,広角X線散乱,結晶歪
アプリケーション 粉末多結晶試料,薄膜試料,ナノマテリアル,バルク
説明 卓上型X線回折装置(XRD)はワンタッチ立ち上げ、ドア開閉不要の軽やか操作で、ハイエンドモデルと同等の高精度ゴニオメータ(DOPS)を搭載。
角度直線性は ±0.02°以内という信頼性の高いデータが得られます。 また、卓上型 XRD でありながら半値幅 0.04°未満の分解能を実現。精密なリートベルト解析に効果を発揮します。
更に透過型測定、薄膜測定にも対応できるようになり、より多くのサンプルの分析に対応できるようになりました

測定したいサンプルは、装置本体の外に設置されたステージに置くだけでセット完了。 測定毎に本体の扉を開閉せず、簡単にサンプル交換できます。
さらに、試料は装置前面のX線管理区域外に有り、測定を止めることなく連続して6試料交換が可能です。

【特長】
  • コンパクト高性能を両立した卓上X線回折装置(XRD)
  •  W770×D786×H690 mm(外部寸法)
  • 安全・簡単設計
  • タッチスクリーン操作
  • 1%以下の低濃度結晶相まで検出可能な高感度
  • リーベルト精密測定に対応可能なピーク分解能
  • 試料水平方式の採用で粉末試料の脱落の心配なし
  • 設置維持費を大幅削減する冷却水装置不要な設計
  • 3ステップオペレーションの容易な操作性