| 価格 | お問合せください |
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| メーカー名 | メイワフォーシス(株) |
| 製品URL | https://meiwanet.co.jp/products/tennant20/ |
| 計測対象物質 | 半導体、シリコン、結晶、金属、樹脂、ポリマー、高分子、紛体、フィルター、ガラス、有機物、生体材料、粒子、多孔質、岩石 、SiO2、繊維、燃料電池、MEMS、電極、酸化物、ウイルス、細胞、昆虫、植物、 |
| アプリケーション | 電子顕微鏡、SEM、TEM、元素分析、EDX、AES、XPS、FIB、FIB-SEM、EBSD、前処理、薄膜、チャージアップ、帯電防止、スパッタコーター、カーボンコーター、FE-SEM、AFM |
| 説明 | 発熱・チャージアップの無い極薄膜コートを実現 ●プラズマCVD方式によるコーティングで、 回り込み良くチャージアップの無い極薄膜を形成 ●試料ステージ全域で均一に、再現性高くコーティング ●1nm以下の極薄膜成膜で、EDS、AES、XPS、EPMA、EBSDなどの前処理に最適 ●発熱の無いコーティング方法で、生体や繊維試料も熱ダメージはゼロ |

