| 価格 | 価格はお問い合わせください。 |
|---|---|
| メーカー名 | (株)日立ハイテク |
| 製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/fe-sem/acat.html |
| 計測対象物質 | 固体、材料、生物 |
| アプリケーション | 表面、観察、解析 |
| 説明 | ACATは連続切片それぞれの同一領域を自動的に画像取得するシステムです。 デジタルカメラなどの光学画像とSEM像から切片の位置を登録し、低倍SEM像から各切片の同一視野を指定して画像を自動取得します。 試料ご提供: 旭川医科大学 准教授 甲賀 大輔 様(A・B) 鹿児島大学 助教 久住 聡 様(A) ◎特長 ■デジタルカメラなどの光学画像から試料位置を特定します ■SEM像と組み合わせることでより精度の高い試料位置登録が可能です ■開始切片で撮影位置を指定するインジケータを作成することで、以降の切片の撮影位置登録を簡便化します ■画像処理を用いて回転・座標の補正を行い、各切片の視野ずれを低減します |
