価格 | 価格はオプション構成によって変動します。 |
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メーカー名 | マルバーン・パナリティカル(スペクトリス株式会社) |
製品URL | http://www.panalytical.jp/Zetium.htm |
計測対象物質 | 金属製品・非鉄製品・触媒・顔料・ポリマー,プラスチック,ゴム等の石油化学製品・土壌・セラミクス・セメント・薄膜・潤滑油,添加剤,燃料油,界面活性剤,水溶液等の液体・電気,電子部品,電池材料・食品・薬品 |
アプリケーション | 元素の定性,定量分析・有害重金属分析・フィルター分析・不良解析・異物検査・触媒残渣・環境分析・元素マッピング・ノンスタンダード(FP)定量・スクリーニング検査・薄膜測定 |
説明 | 複数のX線技術(WDX/EDX/XRD)を1台に統合。Zetium は、軽元素を高感度に分析可能な波長分散と、高速分析・微小部分析に適したエネルギー分散の技術を1つのプラットフォームに搭載することを実現。高精度・高速・微小部分析とあらゆる分析ニーズに最適の光学系で柔軟に対応。更にオプションの選択によりフリーライムの定量も可能。 全世界で多数の実績を誇る、最高級X線管球SST-mAXが進化し、更なる長寿命と高安定性を実現。管球交換のコストやダウンタイム、強度ドリフトによるモニター補正や検量線の引き直しを最小限に抑えます。 【主な特長】 ●軽元素領域の分解能と感度に優れる波長分散と、重元素領域を得意とするエネルギー分散の技術で同時に測定を行う事により、Be4~Am95の全測定領域において、最高感度での分析を実現 ●波長分散とエネルギー分散の同時測定により、分析時間を最大50%削減 ●1元素ずつ測定する波長分散型では無く、全元素同時測定可能なエネルギー分散型検出器を使用することにより、従来技術よりはるかに短い時間で、微小部測定・マッピング分析が可能 ●特許技術のZetaテクノロジーによる、最高の安定性と長寿命を実現した新開発X線管球SSTR-mAX ●THETAコアオプションにより透過法による高精度なフリーライム定量が可能 ●散乱線補正を使用した高精度ノンスタンダードFP定量ソフトウェア |