製品情報
超音波減衰式 粒度分布測定装置 “OPUS”
| 価格 | お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | (株)日本レーザー |
| 製品URL | https://www.japanlaser.co.jp/product/sympatec_opus/ |
| 計測対象物質 | エマルジョン,スラリー |
| アプリケーション | 粉砕・造粒・晶析プロセスのインライン測定 |
| 説明 | OPUSはSympatec社(ドイツ)の超音波減衰式の粒度分布測定装置です。高濃度のスラリーやエマルジョンを希釈することなく、インラインで粒度分布測定できます。粉砕、晶析、重合、乳化などのプロセスを、リアルタイムにモニタリングするのに最適です。プローブ長や各種アダプタはカスタマイズが可能で、生産環境に応じて最適化して導入いただけます。 【主な仕様】 ●測定範囲：1～3000μm ●測定濃度：最大70%vol ●測定時間：3～4分 ●使用環境：120℃以下、圧力50bar以下、PH1～14、防爆構造(オプション) |
