製品情報

ナノ粒子解析装置 nano Partica SZ-100V2シリーズ

価格 8,500,000~
メーカー名 (株)堀場製作所
製品URL http://www.horiba.com/jp/scientific/products-jp/particle-characterization/particle-size-analysis/details/sz-100-7245/
計測対象物質 金属ナノコロイド粒子,カーボンナノチューブ,CMPスラリー,3Dプリンタ材料,自動車用材料,セルロースナノファイバ―,酸化チタン,シリカ,酸化アルミニウム,タンパク質,抗体医薬品,エクソソーム
アプリケーション 機能性ナノ材料、半導体、ゲル材料、高分子、セラミックス、環境・農業、バイオ・ライフサイエンス
説明 ナノサイズのキャラクタリゼーションを解析する重要な3つの要素測定(ナノ粒子測定・ゼータ電位測定・分子量測定)を一台に集約しました。ppmオーダの希薄系から数十%レベルの高濃度試料まで、そのままの状態でのサンプリング・測定が可能。わずか100 μLサンプリングでのゼータ電位の測定が可能です。コロイド粒子、機能性ナノ材料、高分子、ミセル、リポソーム、ナノカプセルなど幅広い応用分野に適合します。

高精度・高速コリレータにより、シングルナノ粒子も十分に測定可能なワイドレンジを実現。粒子径とその分布幅を測定
幅広い試料濃度ニーズに対応:サブppmの稀薄試料から数十%の高濃度試料まで、前処理なしで分析可能
多様なサンプリングセルを使用可能。微量試料(最少12 μL)も対応
Dualオリジナルの微少容量電気泳動セルにより、ゼータ電位をわずか100 μLのサンプリング量で測定
Dual使い捨てセルと短い測定時間で効率的な試料測定が可能。有機溶媒や平板状・試料に対応したゼータ電位測定用セルをご用意
試料濃度を変化させ、散乱光強度を測定し、Debyeプロットを行うことにより、絶対分子量(Mw)と第二ビリアル係数(A2)を測定
✔粒子径測定レンジ:0.3nm~10 μm
✔粒子径測定精度:ISO13321準拠規格
✔NISTトレーサブル単分散ポリスチレンラテックス 100 nmに対して測定精度±2 %(ただし、標準粒子自体のバラつきを含まない)
✔分子量測定レンジ:1×103~2×107 Da
✔ゼータ電位測定レンジ:-500~+500 mV