製品情報
原子間力顕微鏡（AFM) NX10
| 価格 | お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | パーク・システムズ・ジャパン(株) |
| 製品URL | http://www.parksystems.co.jp |
| 計測対象物質 | |
| アプリケーション | |
| 説明 | パーク・システムズのNX10AFMは、新たにSmartScanという誰でも簡単に計測を可能とする画期的なAFMのOSを搭載した最新型の高性能AFMです。ボーイングエラーの無いXYとZスキャナの完全独立構造と、9kHzを超えるZサーボバンド幅のZスキャナによる高速ノンコンタクト計測を可能としました。業界最高水準の低ノイズで高分解能表面粗さ計測、傾斜構角の正確な計測、その他様々な物性計測、及び液中の生体試料観察も可能です。
・SmartScan による簡単自動測定機能 ・XY、Z完全独立機構 ・クローズドループXYスキャナ：50µm×50µm ・Zスキャナ：15µm ・取得画像：AFM（大気・液中）、ICM（液中） |
