価格 | お問い合わせください |
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メーカー名 | ブルカージャパン(株) |
製品URL | https://www.bruker.com/ja/products-and-solutions/elemental-analyzers.html |
計測対象物質 | Si,W,Fe,Sn,Sb,B,Li,C.N,O,F,Na,Mg,Al,S,P,S,Cl,Ca,Cr,Mn,Mo |
アプリケーション | ,元素分析,マッピング,定量分析,定性分析,蛍光X線分析,RoHS分析,有害元素分析,基盤分析 |
説明 | QUANTAXシリーズ ●SEM/TEM用EDS: XFlash® 独自の試料直上型検出器の圧倒的な検出立体角と高速プロセッサにより低電流時でも高速元素マッピング ●WDS: XSense 低エネルギー領域で最高の感度、自動で光学系調整を最適化 ●EBSD: e-Flash オンアクシスTKDによる唯一無二の空間分解能、カラー反射電子像で集合組織を確認 ●SEM内顕微XRF: XTrace2 SEMと同一視野を微量元素分析、膜厚分析 ●統合ソフトウェア: ESPRIT EDS/EBSDなどの複合分析を実現 M4 TORNADO/M4 TORNADO PLUSシリーズ ●M4 TORNADOシリーズ エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置、NaからUまで非破壊・非接触分析を実現し、最大19cm x 16cmの元素マッピングが可能 ●M4 TORNADO PLUSシリーズ 超軽元素Cから測定が可能なハイスペックモデル、凹凸試料の測定に最適な特許アパーチャーマネージメントシステムを標準装備、あらゆる分野の高感度・高解像度の元素マッピングを実現 |