価格 | 価格はお問い合わせください。 |
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メーカー名 | 株式会社日立ハイテク |
製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/fe-sem/su7000.html |
計測対象物質 | 固体、材料、電気部品 |
アプリケーション | 観察、分析 |
説明 | 低加速電圧での高い像質、複数信号同時取得などに加え、広域視野観察、In-Situ観察など現在のFE-SEMでは高い能力と多くの機能が要求されています。 SU7000は多様化するニーズにおいて情報最大化を目ざして創られた、「新しいSEM」です。 SU7000がもたらす世界を体感してください。 キーコンセプト ①多彩なイメージング能力 広視野全体像から表面微細構造まで、SU7000は多様な信号の迅速取得を目ざして設計されました。 複数の二次電子信号・反射電子信号が同時に取得できるようにデザインされた電子光学系/検出系はより短い時間で多くの情報をユーザーにもたらします。 ②マルチチャンネルイメージング イメージングニーズの増加に伴い、装着される検出器の数も増加していますが、表示もそれに見合う機能が必要です。 SU7000では最多6チャンネルでの信号同時表示/保存が可能です。 取得情報の最大化を強力にアシストします。 ③多様な試料形状・観察手法に対応 ・大型試料観察 ・低真空観察 ・クライオ観察 ・その場観察 などに対応するための試料室や真空系を備え、多様な観察手法に応えます。 ④マイクロアナリシス ショットキーエミッター搭載の電子銃による最大200 nAの照射電流は余裕を持って各種マイクロアナリシスに対応します。 EDXをはじめとしたX線分析、EBSD、カソードルミネッセンスなどを想定した試料室形状/ポートレイアウトと合わせ、分析アクセサリーの組み合わせの多様化に備えています。 |