製品情報
蛍光Ｘ線膜厚計 FT110Aシリーズ
| 価格 | お問い合わせください。 |
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| メーカー名 | (株)日立ハイテクアナリシス |
| 製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/analytical-systems/coatings/ft110.html |
| 計測対象物質 | 環境、排水、土壌、飲料水、半導体、電子部品、金属、セラミック、貴金属、医薬品、化粧品、食品、鉄鋼、非鉄、プラスチック、めっき、RoHS、EN、RPF、インク、電池 |
| アプリケーション | 薄膜FPソフト拡充により、厚み標準物質なしでも測定が可能です。多層膜や合金膜の測定が簡単に行えます。 |
| 説明 | 自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。 ・試料を置くだけで測定可能 ・50nmの薄金メッキの膜厚を10秒で測定 ・ 標準試料なしの測定が可能 ・広域観察システムによる簡単位置決め |