価格 | お問い合わせください |
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メーカー名 | (株)日本レーザー |
製品URL | https://www.japanlaser.co.jp/product/fsm-precision_nanoview1000/ |
計測対象物質 | 材料化学,半導体,デバイス,薄膜 |
アプリケーション | トポグラフィ,位相,EFM,LFM,MFM,液中測定 |
説明 | 従来のAFMの半分程度の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。内蔵のCCDカメラでAFM測定箇所を観察可能で、測定位置を狙うことができます。アプローチなどは自動で行われます。オプションで、EFM、LFM、MFM、液中測定などが追加可能です。
【他の特長】 ●低ノイズ(ばね吊り下げ式でノイズ低減) ●プローブ交換、レーザアライメント調整が簡単 ●サンプルへの自動アプローチ機能でクラッシュを防御 ●オートステップモータ駆動による位置合わせ ●高精度XYステージで走査エリアを容易に選択可能 ●測定位置調整に便利な、付属CCDによるサンプルのリアルタイム観察機能 ●モジュール設計でメンテナンスや機能追加等が容易 ●ソフトウェアOSと連携して、複数の走査モードコントロール回路を統合 |