卓上自動粒子解析SEM/EDS Phenom ParticleX

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メーカー名 ジャスコインタナショナル(株)
製品URL https://www.jascoint.co.jp/products/sem/index2020_03.html
計測対象物質 金属,樹脂,フィルム,トナー,紙,繊維, 食品,化粧品,製薬,植物,毛髪,生物,半導体,機械,エンジン,自動車,粒子,電 池材料,生態,環境,最先端材料
アプリケーション 品質管理,工程管理,研究,商品開発,製品検査,摩擦学,ライフサイエンス,材料の評価,教育,元素分析, 異物解析,粒 子解析,繊維解析,細孔解析,粗さ解析,犯罪捜査,科学捜査
説明 短時間での異物粒子の検出から、サイズ・形状計測、元素分析、分類、レポート作成までを完全自動化します。粒子を捉える高画質、数千~数万個の粒子を解析するスピード、測定の再現性。高輝度・長寿命のCeB6電子銃、シンプルな光学系、スマートなアルゴリズムにより全自動粒子解析で求められるこれら3つの性能を実現します。

特徴
●クリアな粒子像を自動粒子解析で実現
●良質なデータを1秒1粒子で取得
●最高クラスの繰り返し精度・再現性
●各目的に特化した5つの専用モデル
 1.製造部品清浄度検査、2.電池材料品質管理、3.粒子材料特性評価、4.鉄鋼介在物評価、5.射撃残渣分析