製品情報
画像解析式粒度分布測定ソフトウェアMac-View
| 価格 | 498,000～ |
|---|---|
| メーカー名 | (株)マウンテック |
| 製品URL | http://www.mountech.co.jp/exhibition/macview/#anker |
| 計測対象物質 | |
| アプリケーション | ナノ粒子,凝集粒子,造粒体,焼結体の断面,乳化粒径等 |
| 説明 | 画像解析式粒度分布測定ソフト「Mac-View」は、Ver.5となり、粒子認識操作において、さらに使いやすくパワーアップしました。 研究開発や品質管理に不可欠な SEMやTEMなどの顕微鏡写真から、粒度分布や形状係数の計測・解析が可能です。 【特長】 ・JIS8827-1:2018準拠。 ・凝集体の1次粒子の解析が可能。 ・スケールの表示された画像であれば粒径サイズ問わず計測・解析が可能。 ・特別な知識は不要で、ユーザーインターフェースに優れたソフト設計。 ・測定対象粒子の識別を正確・迅速に行う豊富な粒子認識ツール群。 ・粒子を認識すれば瞬時に粒度分布を算出。 ・粒径％，ON/PASS，ピークデータ，体積・個数・長さ変換，データ合成，円形度,アスペクト比等の豊富な解析メニュー。 |
