価格 | 価格は別途お問い合わせください |
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メーカー名 | 日本電子(株) |
製品URL | https://www.jeol.co.jp/products/scientific/sem/JCM-7000.html |
計測対象物質 | 合金,鉱石,土壌,プラスチック,フィルタ,廃材,めっき,高分子,粉黛,食品,金属,半導体,MEMS,液晶用偏光板,電子部品,樹脂,生物 |
アプリケーション | 異物,欠陥,食品,医薬品,微小領域,元素分析,マッピング,イメージング,点分析,面分析,モンタージュ |
説明 | JCM-7000は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 試料の光学像を自動取り込みでき、視野探しが容易です。光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に3次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 異物分析や品質管理をよりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。 |