価格 | 価格は別途お問い合わせください |
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メーカー名 | 日本電子(株) |
製品URL | https://www.jeol.co.jp/products/scientific/epma/SXES_SA.html |
計測対象物質 | 電池材料,鉄鋼中微量軽元素,Al化合物,Si化合物,高分子ポリマー,地質鉱物 |
アプリケーション | 電池の充放電状態の化学状態比較,Al,Si化合物の評価,遷移金属化学状態分析 |
説明 | 本製品は、高度に設計された不等間隔溝回折格子を用いて50eVから超軟X線領域のX線発光スペクトルを、XPSやEELS並みの高エネルギー分解能で分光し、しかも複数X線をパラレル検出する今までにないユニークなX線分光器です。 更に、WDS同様高エネルギー分解能・低バックグランドですので、窒素、硼素、炭素など超軽元素の微量成分検出にも高い効果を発揮します。 また遷移金属の状態分析をパラレルに実施することもできます。 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)もしくは走査電子顕微鏡(SEM)に搭載します。既に世界中の多くの研究機関や民間企業で、最先端材料研究に使われており、今大注目の元素分析装置です。 |