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製品情報

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シリコンドリフト検出器(電子顕微鏡用)Octane シリーズ (米国EDAX社製)
価格 弊社にお問い合わせください。
メーカー名 アメテック(株) 
製品URL http://www.edax.co.jp/
計測対象物質
アプリケーション
説明 Octane シリーズ シリコンドリフト検出器(SDD)は従来では考えられなかったハイスピード、ハイクオリティの分析が可能です。わずか15秒のマッピングで、定量的な評価が可能です。

●FETオンチップ型の最先端SDD
Mnエネルギー分解能 最高 121eV
●ハイスピード分析でも高い分解能 安定性
すべてのX線係数率でハイクオリティなデータを保証。200,000cpsのマッピングスピードにおいても、ハイクオリティな定量分析に展開可能。
●最先端のパルスプロセッサにより、スペクトルのアーティファクトを軽減
世界最高クラスの高効率処理により、入射X線を計測。マッピング時間を大幅に短縮し、生産性を最大化。
●大面積検出器による低加速・定電流分析
検出素子面積 最大100㎟。高空間分解能を実現できる低加速分析。試料ダメージを低減する低電流分析。

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