価格 | 弊社にお問い合わせください。 |
---|---|
メーカー名 | アメテック(株) |
製品URL | http://www.edax.co.jp/ |
計測対象物質 | |
アプリケーション | |
説明 | Octane シリーズ シリコンドリフト検出器(SDD)は従来では考えられなかったハイスピード、ハイクオリティの分析が可能です。わずか15秒のマッピングで、定量的な評価が可能です。 ●FETオンチップ型の最先端SDD Mnエネルギー分解能 最高 121eV ●ハイスピード分析でも高い分解能 安定性 すべてのX線係数率でハイクオリティなデータを保証。200,000cpsのマッピングスピードにおいても、ハイクオリティな定量分析に展開可能。 ●最先端のパルスプロセッサにより、スペクトルのアーティファクトを軽減 世界最高クラスの高効率処理により、入射X線を計測。マッピング時間を大幅に短縮し、生産性を最大化。 ●大面積検出器による低加速・定電流分析 検出素子面積 最大100㎟。高空間分解能を実現できる低加速分析。試料ダメージを低減する低電流分析。 |