製品情報
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom ProX/Pro/XL
| 価格 | お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | ジャスコインタナショナル(株) |
| 製品URL | https://www.jascoint.co.jp/products/sem/index.html |
| 計測対象物質 | 金属,樹脂,フィルム,トナー,紙,繊維, 食品,化粧品,製薬,植物,毛髪,生物,半導体,機械,エンジン,自動車,粒子,電池材料,生態,環境,石,砂 |
| アプリケーション | 品質管理,工程管理,研究,商品開発,製品検査,摩擦学,ライフサイエンス,材料の評価,教育,元素分析, 異物解析,粒子解析,繊維解析,細孔解析,粗さ解析,犯罪捜査,科学捜査 |
| 説明 | 高画質と使いやすさを追求したサーモフィッシャーサイエンティフィック社の卓上SEMです。 高分解能で元素分析機能を搭載したPhenom ProXから100x100mmの範囲でSEM像観察が可能なPhenom XLまで、目的に合わせたラインナップがあります。解析ソフトを追加することで、粒子や繊維の解析や試料表面の粗さ測定が可能です。 特徴 ●高画質、長寿命なCeB6電子銃を採用 ●光学ナビゲーションと自動ステージを標準で搭載 ●振動に強く、設置場所を選ばない ●走査領域100x100mmに拡張可能（Phenom XLのみ） |
