製品情報
エネルギー分散型X線分析装置 AZtecTEM
| 価格 | 16,500,000～ |
|---|---|
| メーカー名 | オックスフォード・インストゥルメンツ(株) |
| 製品URL | https://nano.oxinst.jp/products/aztec/aztectem |
| 計測対象物質 | 金属,セラミック,鉱物,半導体,複合材料 |
| アプリケーション | 薄片の元素マッピング,析出物の組成分析, 薄片試料の非破壊厚み計測 |
| 説明 | 透過電子顕微鏡(TEM)用エネルギー分散型X線分析装置(EDS)。新設計により感度が向上した大面積SDD、UltimMaxとの組み合わせで、業界初・ライブでのX線イメージングを実現。元素マップによる視野探しで分析にかかる時間を大幅に短縮。進化したドリフト補正機能AutoLockとピーク分離マップTruMap(オプション)で原子レベルの高分解能分析にも対応。独自の膜厚測定プログラムも搭載し、さらに定量精度も向上しています。 ■ ソフトウェア AZtecEnergyTEM SP, AZtecEnergyTEM Standard, AZtecEnergyTEM Advanced ■ 検出器 UltimMax TLE, UltimMax TEM, Xplore TEM |
