価格 | 価格はお問い合わせください。 |
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メーカー名 | 株式会社日立ハイテク |
製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/sem/su3800.html |
計測対象物質 | 金属、生物、食品、医薬品 |
アプリケーション | 観察、分析 |
説明 | 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800 / SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ◎特長 ①多目的大型試料室を標準搭載し、大型試料の解析に対応 SU3800 : 最大試料寸法 200mm径、最大搭載可能高さ 80mm SU3900 : 最大試料寸法 300mm径、最大搭載可能高さ 130mm ②さまざまな自動機能の強化により、操作性がさらに進化 ■オート調整のアルゴリズム改良。待ち時間が1/3以下。(※S-3700N比) ■独自のIntelligent Filament Technology(IFT)を搭載 フィラメントの状態を自動で監視・制御することで、フィラメントの長寿命化を実現。 ■複数領域の広域観察を可能にする、Multi Zigzag (オプション) ③解析目的に応じた検出器、ソリューションを用意 ■多様な観察ニーズに対応する検出器。 ■多目的大型試料室により豊富なアクセサリを搭載可能。 SEM/EDSインテグレーションシステム 3次元モデル表示・計測ウェアHitachi map 3D 画像計測ソフトウェアImage Pro® ◎仕様 ■二次電子分解能 3.0nm(加速電圧30kV、WD=5mm、高真空モード) 15.0nm(加速電圧1kV、WD=5mm、高真空モード) ■反射電子像分解能 4.0nm(加速電圧30kV、WD=5mm、低真空モード) ■倍率 ×5~×300,000(写真倍率) ×7~×800,000(実表示倍率) ■加速電圧 0.3~30kV |