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製品情報

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卓上型全反射蛍光X線分析装置 NANOHUNTER II
価格 11,000,000~
メーカー名 株式会社リガク
製品URL https://www.rigaku.com/ja/products/xrf/nanohunter2
計測対象物質
アプリケーション
説明 試料表面すれすれに入射したX線により、表面近傍元素を選択的に効率良く励起できる、高感度な元素分析装置です。全反射条件を満たすことで低いバックグラウンドを実現します。また、入射角度可変機構も搭載しており、得られる情報の深さを変更することが可能です。標準的なMo励起源に加え、30keV以上の高エネルギー励起源も搭載し、幅広い元素の測定が可能です。基板上に点滴・乾燥させた10μL程度の微量液体を数ppb~の検出感度で測定できます。
・X線管:Mo (600W)
・モノクロメータ:Mo (17.4keV), 高エネルギー (35keV)
・検出器:SDD
・分析元素範囲:Al ~ U
・入射角度範囲:-0.05 ~ +0.45°
・試料交換機:16試料
・試料サイズ:26×76mm,φ30mmディスク,最大厚み5mm

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