蛍光X線方式膜厚測定器 フィッシャースコープ XDLM 237

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メーカー名 (株)フィッシャー・インストルメンツ
製品URL https://www.helmutfischer.jp/product/xrf/xdlm/
計測対象物質 周期表におけるCa(20)~U(92)迄の金属
アプリケーション 基板産業におけるAu/Ni/Cu/PCB(プリント基板)またはSn/Cu/PCBのような皮膜の測定,電子工業におけるプラグや接点の皮膜量産品(ボルト等)の防食皮膜のためのZn/FeやZnNi/Fe
説明 高感度比例計数管の採用により,微小部分及び薄膜の測定を可能にしました。
FP法の採用により,従来では時間を浪費していた検量線の作成が非常に短時間で簡単に行えます。
めっき液分析はもちろん,合金の組成分析素材の品種判別等も簡単に測定できます。
コネクターなどの銅合金上のメッキ測定で下地の補正無しに素材の分析を同時に行えます。
汎用PCの採用により,データ通信やデータの互換が容易にできます。