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製品情報

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膜厚計L-200Jシリーズ LE/LH/LZ-200J
価格 438,000~578,000
メーカー名 (株)ケツト科学研究所
製品URL http://www.kett.co.jp/products/c_12/index.html
計測対象物質 塗装,プラスチック,ラッカー,樹脂,ゴム,エナメル,銅,アルミニウム
アプリケーション 膜厚測定,厚さ測定
説明 膜厚計200Jシリーズのバリエーションは3タイプです。LE-200Jは磁性金属上に施された被膜厚を測定する電磁膜厚計、LH-200Jは非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する渦電流膜厚計、LZ-200Jはその両者を測定することができるデュアルタイプ膜厚計です。ボタン操作ひとつで平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる統計計算機能、素地の違いによる誤差をなくすキャリブレーション・メモリ機能、 膜厚の管理範囲を指定するリミット設定機能などを装備しています。測定結果は内蔵プリンタでプリントアウトできます。
LE-200J
・測定方式:電磁誘導式
・測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
・測定範囲:0~1500μmまたは60.00mils
・測定精度:15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
・寸法質量:120×250×55 1.0kg
LH-200J
・測定方式:渦電流式
・測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜
・測定範囲:0~800μmまたは32.00mils
・測定精度:50μm未満:±1μm、50μm以上:±2%
・寸法質量:120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
LZ-200J
・測定方式:電磁誘導式/渦電流式兼用
・測定対象:磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
・測定範囲:電磁式 0~1500μmまたは60.00mils
渦電流式 0~800μmまたは32.00mils
・測定精度:電磁式 15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
渦電流式:50μm未満:±1μm、50μm以上:±2%
・寸法質量:120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg

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