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製品情報

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原子間力顕微鏡(AFM) NX10
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メーカー名 パーク・システムズ・ジャパン(株)
製品URL http://www.parksystems.co.jp
計測対象物質
アプリケーション
説明 パーク・システムズのNX10型AFMは、新たにSmartScanという誰でも簡単に計測を可能とする画期的なAFMのOSを搭載した最新型の高性能AFMです。ボーイングエラーの無いXYとZスキャナの完全独立構造と、9kHzを超えるZサーボバンド幅のZスキャナーによる高速ノンコンタクト計測を可能としました。業界最高水準の低ノイズで高分解能表面粗さ計測、傾斜構角の正確な計測、その他様々な物性計測、及び液中の生体試料観察も可能です。
・SmartScan による簡単自動測定機能
・XY,Z完全独立機構
・クローズドループXYスキャナー: 100µm×100µm
・Zスキャナー: 25µm
・取得画像:ICM(液中)、AFM(大気・液中)

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