価格 | お問い合わせください |
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メーカー名 | パーク・システムズ・ジャパン株式会社 |
製品URL | http://www.parksystems.co.jp |
計測対象物質 | |
アプリケーション | |
説明 | パーク・システムズのNX10AFMは、新たにSmartScanという誰でも簡単に計測を可能とする画期的なAFMのOSを搭載した最新型の高性能AFMです。ボーイングエラーの無いXYとZスキャナ-の完全独立構造と、9kHzを超えるZサーボバンド幅のZスキャナーによる高速ノンコンタクト計測を可能としました。業界最高水準の低ノイズで高分解能表面粗さ計測、傾斜構角の正確な計測、その他様々な物性計測、及び液中の生体試料観察も可能です。
・SmartScan による簡単自動測定機能 ・XY、Z完全独立機構 ・クローズドループXYスキャナー: 50µm×50µm ・Zスキャナー: 15µm ・取得画像:AFM(大気・液中)、ICM(液中) |