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オールインワン X線回折装置 Empyrean
価格 20,000,000~40,000,000
メーカー名 パナリティカル(スペクトリス(株)PANalytical事業部)
製品URL http://www.panalytical.jp/Empyrean.htm
計測対象物質 粉末多結晶試料,薄膜試料,ナノマテリアル,バルク試料
アプリケーション 結晶相定性分析,定量分析,結晶化度・結晶子サイズ・構造解析,X線反射率,薄膜応力解析,配向解析,In-plane 回折,エピタキシャル薄膜解析,逆格子空間マッピング,小角X線散乱
説明 一台ですべてのアプリケーションを実現するオールインワンXRD。

【特長】
●最先端の技術を集大成した次世代型XRD装置
●粉末・バルク・薄膜・ナノマテリアルなど多岐にわたる材料の分析
●PIXcel3D検出器で0D-1D-2D-3Dのマルチなアプリケーションに対応
●X線CT,トモグラフィー機能による固体内部の透過像、密度解析
●最新のゴニオメータによる装置性能の大幅向上

【アプリケーション】
粉末多結晶試料のアプリケーション
‐結晶相定性分析、定量分析(リートベルト法)
‐結晶化度解析、結晶子サイズ、結晶構造解析ならびに精密化
‐2D検出器のデバイス環による結晶状態確認、温度・湿度・圧力などの状態観測

薄膜試料のアプリケーション
‐結晶相定性分析、X線反射率、薄膜応力解析
‐配向解析、In-plane 回折、エピタキシャル薄膜解析
‐逆格子空間マッピング、温度可変状態での観測

ナノマテリアルのアプリケーション
‐小角X線散乱(SAXS)、結晶子サイズ解析、非晶質定量
‐局所構造(PDF)解析、結晶化の過程観測

バルク試料のアプリケーション
‐X線CT(Computed tomography)、微小部解析
‐配向解析、応力解析

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