製品情報
オールインワン X線回折装置 Empyrean
| 価格 | 20,000,000～40,000,000 |
|---|---|
| メーカー名 | マルバーン・パナリティカル（スペクトリス株式会社） |
| 製品URL | http://www.panalytical.jp/Empyrean.htm |
| 計測対象物質 | 粉末多結晶試料,薄膜試料,ナノマテリアル,バルク試料 |
| アプリケーション | 結晶相定性分析,定量分析,結晶化度・結晶子サイズ・構造解析,X線反射率,薄膜応力解析,配向解析,In-plane 回折,エピタキシャル薄膜解析,逆格子空間マッピング,小角X線散乱 |
| 説明 | 一台ですべてのアプリケーションを実現するオールインワンXRD。 【特長】 ●最先端の技術を集大成した次世代型XRD装置 ●粉末・バルク・薄膜・ナノマテリアルなど多岐にわたる材料の分析 ●PIXcel3D検出器で0D-1D-2D-3Dのマルチなアプリケーションに対応 ●X線ＣＴ，トモグラフィー機能による固体内部の透過像、密度解析 ●最新のゴニオメータによる装置性能の大幅向上 【アプリケーション】 ●粉末多結晶試料のアプリケーション ‐結晶相定性分析、定量分析（リートベルト法） ‐結晶化度解析、結晶子サイズ、結晶構造解析ならびに精密化 ‐２Ｄ検出器のデバイス環による結晶状態確認、温度・湿度・圧力などの状態観測 ●薄膜試料のアプリケーション ‐結晶相定性分析、X線反射率、薄膜応力解析 ‐配向解析、In-plane 回折、エピタキシャル薄膜解析 ‐逆格子空間マッピング、温度可変状態での観測 ●ナノマテリアルのアプリケーション ‐小角X線散乱（SAXS）、結晶子サイズ解析、非晶質定量 ‐局所構造（PDF）解析、結晶化の過程観測 ●バルク試料のアプリケーション ‐X線CT（Computed tomography）、微小部解析 ‐配向解析、応力解析 |
