価格 | 30,000,000~ |
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メーカー名 | オックスフォード・インストゥルメンツ(株) |
製品URL | https://nano.oxinst.jp/ultim-extreme |
計測対象物質 | 金属,セラミック,鉱物,半導体,複合材料,Li,リチウム |
アプリケーション | ナノスケールの微小領域の元素分析.Liなど軽元素の検出 |
説明 | AZtecLive/UltimExtremeは走査電子顕微鏡(SEM)用エネルギー分散型X線分析装置(EDS)。SEM用ウインドウレス・大面積SDD、UltimExtremeで、従来のSEM-EDSの常識を超えた10nmを切る空間分解能を実現します。 ウインドウレス技術で低エネルギーX線の感度を増大。Liを含む軽元素および低エネルギーピークの検出・解析ができます。SDD先端部の特殊設計により立体角を拡大、ナノ領域からの微小なX線信号も効率よく収集。 ウインドウつきのUltimMax検出器との同時搭載・切り替えにより、幅広い分析条件でのEDS分析にも対応します。 ■ ソフトウェア AZtecLive Standard, AZtecLive Advanced, AZtecLive Expert ■ 検出器 UltimExtreme |