価格 | 価格はお問い合わせください。 |
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メーカー名 | 株式会社日立ハイテク |
製品URL | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/tabletop-microscopes/tm4000ii.html |
計測対象物質 | 固体 |
アプリケーション | 観察、分析 |
説明 | もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発した卓上顕微鏡TM4000IIシリーズ。新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 ◎特長 ①直観的な操作で迅速観察 ■画像観察まで3分。直感的な操作で目的データ取得からをレポート作成までをサポート。 ■前処理不要で絶縁物や水分・油分を含む試料の表面観察を実現。 ②卓上サイズで幅広いサンプルに対応 ■最大80 mm径、厚さ50 mmの試料サイズに対応。 ■加速電圧20kVに対応。高計数での迅速な元素分析やアスベスト分析にも幅広く対応(オプション) 。 ③多彩なオプション ■連続視野取込機能(オプション)による広域観察および観察の自動化が可能です。 ■リアルタイム元素分析が可能となりました(オプション)。 ◎仕様 <TM4000Ⅱ/TM4000PlusⅡ> 倍率×10~×100,000(写真倍率) ×25~×250,000(モニター倍率) 加速電圧:5 kV、10 kV、15 kV、20 kV(オプション) 画像モード(反射電子):通常、影付1、影付2、凹凸 最大試料寸法:80 mm 最大試料厚さ:50 mm <X線分析装置(オプション。機種により異なります)> 検出素子面積:30 mm2・60 mm2 検出可能元素:B5~Cf98 オプション:ライブスペクトル |