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製品情報

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集束イオンビーム加工観察装置 JIB-4000PLUS
価格 価格は別途お問い合わせください
メーカー名 日本電子株式会社
製品URL https://www.jeol.co.jp/products/detail/JIB-4000PLUS.html
計測対象物質 金属材料,鉱石,プラスチック,フィルタ,半導体,先端材料,液晶,固体
アプリケーション FIB加工,TEM/SEM用試料作製,SIM像観察,三次元測定
説明 JIB-4000PLUSは自動化、高速化を実現した次世代の集束イオンビーム加工観察装置です。
新開発の“STEMPLING”(オプション)により複数のSEM、S/TEM観察試料を無人にて連続自動作製することができます。また、最大照射電流90nAの高電流密度Gaイオンビームを採用し、試料を高速に加工します。
三次元観察を行うための連続スライス断面観察機能も標準構成されており、TEM観察のための薄膜試料作製から断面試料作製、連続スライス断面観察による三次元観察まで幅広いアプリケーションを提供します。

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