製品情報
飛行時間型二次イオン質量分析装置 PHI nanoTOF 3+
| 価格 | お問い合わせください |
|---|---|
| メーカー名 | アルバック・ファイ(株) |
| 製品URL | https://www.ulvac-phi.com/ja/products/ |
| 計測対象物質 | |
| アプリケーション | |
| 説明 | イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザー（TRIFT型アナライザー）を継承しつつ、当社XPSで実績のある試料搬送機構を採用、またユニークなイオンビームテクノロジーによる完全ターンキー帯電中和が可能です。絶縁物多試料の連続無人測定を、低ノイズかつ高感度で実現します。さらに、「パラレルイメージングMS/MS」やガスクラスターイオン銃など、目的に応じて多彩なオプションを選択可能な最新鋭のTOF-SIMSです。 【多彩なオプション】 パラレルイメージングMS/MS、アルゴンガスクラスターイオン銃、C60イオン銃、セシウムイオン銃、アルゴン/酸素スパッタイオン銃、試料冷却・加熱機構、試料高温加熱機構、トランスファーベッセル、酸素リーク機構、FIB（Focused Ion Beam)専用銃、FIBソフトウェア、前処理室、各種特殊ホルダー、オフラインデータ処理システム、Static SIMS Library ほか |
