製品情報
フラッシュ法熱物性測定装置 DLF,DXF
| 価格 | 4,500,000～ |
|---|---|
| メーカー名 | ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン(株) |
| 製品URL | http://www.tainstruments.co.jp |
| 計測対象物質 | 金属,セラミックス,ガラス,カーボン/グラファイト,ポリマー,耐火物,半導体,熱電対,粉末金属,遮熱コーティング,高熱伝導性材料,ラミネート |
| アプリケーション | レーザフラッシュ法により材料の熱拡散率・比熱容量・熱伝導率を測定 |
| 説明 | フラッシュ法熱物性測定装置は測定材料や温度範囲により光源(キセノン/レーザー）が選択可能です。モジュールの組み合わせにより、広い温度範囲での測定を実現できます。様々な材料に対応可能で、ひとつのサンプルの1回のテストから、拡散率・比熱・熱伝導率など複数の特性を取得できます。
・温度範囲：-150～2800℃ ・フラッシュの種類：キセノン,レーザー ・熱拡散率測定範囲：0.01～2000mm2/s ・熱伝導率測定範囲：0.1～2000W/mk *機種により異なります |
